DIFRACTIE DE RAZE X (XRD): Caracterizarea materialelor, de la cercetare fundamentala la controlul calitatii in industrie.

Portofoliul de echipamente de difractie al Bruker AXS acopera un domeniu larg de tehnici de imprastiere a razelor X pentru caracterizarea si controlul calitatii materialelor cristaline si amorfe: pulberi, solide, straturi subtiri sau lichide.

Astfel, Bruker AXS ofera echipamente pentru difractie de raze X pe pulberi (XRPD), imprastiere “totala” sau “difuza” (analiza PDF), imprastiere la unghiuri mici (SAXS), analiza straturi subtiri, imagistica cu radiatii X, astfel incat pot fi oferite solutii tehnice pentru orice tip de cerinta analitica ce necesita difractia de raze X. In plus, toate sistemele Bruker AXS sunt construite pe o platforma D8 comuna, ce permite configurarea fiecarui instrument pentru mai multe aplicatii.